超薄干挂板

超薄干挂板是一种适合户外应用的表面材料。它包括各种各样的天然石头,并被粘合到玻璃纤维,陶瓷或花岗岩等基材上。

复合花岗岩石板
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复合花岗岩石板

复合花岗岩石板是天然石材贴面复合定制尺寸花岗岩。

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适用石材:全品 标准格式:1200 x 600 mm、1200 x 300 mm、600 x 600 mm 最大格式:2440 x 1220 mm≤ 石材厚度:5mm≥ 花岗岩底板厚度:15 mm 重量(kg/m²):±53 kg 使用面积:立面、内部、地板
复合玻纤花岗岩
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复合玻纤花岗岩

复合玻纤花岗岩是15-20mm的花岗岩复合玻璃纤维底板。

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适用石材:花岗岩 标准格式:1200 x 600 mm、1200 x 300 mm、600 x 600 mm 石材厚度:15毫米、18毫米、20毫米 玻璃纤维底板厚度:1 mm 重量(kg/m²):±42 kg、±50 kg、±55 kg 使用面积:立面、内部、地板
复合瓷砖石板
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复合瓷砖石板

复合瓷砖石板是天然石材贴面与陶瓷底板的复合材料。

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适用石材:全品 标准格式:300 x 600 mm≤、1200 x 600 mm≥、2400 x 1200 mm 石材厚度:3mm≥,5mm≥ 瓷砖底板厚度:9mm、12mm 重量(kg/m²):±36-43 kg 使用面积:立面、内部、地板
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被动元件检测设备

KLA的缺陷检测与复检视系统支持芯片和晶圆制造环境中各种不同的良率应用,包括进厂工艺设备认证、晶圆认证、研究和开发以及设备、工艺和生产线监控。图案化和非图案化的晶圆缺陷检测与复检系统可以捕获并识别晶圆前后表面以及边缘上的颗粒和图案缺陷,并对其进行分类。该信息将帮助工程师发现、解决并监控关键的良率偏移,从而加快良率提升并达到更高的产品良率。

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被动元件检测设备

KLA的缺陷检测与复检视系统支持芯片和晶圆制造环境中各种不同的良率应用,包括进厂工艺设备认证、晶圆认证、研究和开发以及设备、工艺和生产线监控。图案化和非图案化的晶圆缺陷检测与复检系统可以捕获并识别晶圆前后表面以及边缘上的颗粒和图案缺陷,并对其进行分类。该信息将帮助工程师发现、解决并监控关键的良率偏移,从而加快良率提升并达到更高的产品良率。

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被动元件检测设备

KLA的缺陷检测与复检视系统支持芯片和晶圆制造环境中各种不同的良率应用,包括进厂工艺设备认证、晶圆认证、研究和开发以及设备、工艺和生产线监控。图案化和非图案化的晶圆缺陷检测与复检系统可以捕获并识别晶圆前后表面以及边缘上的颗粒和图案缺陷,并对其进行分类。该信息将帮助工程师发现、解决并监控关键的良率偏移,从而加快良率提升并达到更高的产品良率。

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被动元件检测设备

KLA的缺陷检测与复检视系统支持芯片和晶圆制造环境中各种不同的良率应用,包括进厂工艺设备认证、晶圆认证、研究和开发以及设备、工艺和生产线监控。图案化和非图案化的晶圆缺陷检测与复检系统可以捕获并识别晶圆前后表面以及边缘上的颗粒和图案缺陷,并对其进行分类。该信息将帮助工程师发现、解决并监控关键的良率偏移,从而加快良率提升并达到更高的产品良率。

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被动元件检测设备

KLA的缺陷检测与复检视系统支持芯片和晶圆制造环境中各种不同的良率应用,包括进厂工艺设备认证、晶圆认证、研究和开发以及设备、工艺和生产线监控。图案化和非图案化的晶圆缺陷检测与复检系统可以捕获并识别晶圆前后表面以及边缘上的颗粒和图案缺陷,并对其进行分类。该信息将帮助工程师发现、解决并监控关键的良率偏移,从而加快良率提升并达到更高的产品良率。

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被动元件检测设备

KLA的缺陷检测与复检视系统支持芯片和晶圆制造环境中各种不同的良率应用,包括进厂工艺设备认证、晶圆认证、研究和开发以及设备、工艺和生产线监控。图案化和非图案化的晶圆缺陷检测与复检系统可以捕获并识别晶圆前后表面以及边缘上的颗粒和图案缺陷,并对其进行分类。该信息将帮助工程师发现、解决并监控关键的良率偏移,从而加快良率提升并达到更高的产品良率。

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